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真空 ›› 2020, Vol. 57 ›› Issue (5): 11-13.doi: 10.13385/j.cnki.vacuum.2020.05.03

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射频反应磁控溅射制备MoS2薄膜结构及光学性能*

韦贤露, 巩晨阳, 肖剑荣   

  1. 桂林理工大学理学院,广西 桂林 541004
  • 收稿日期:2019-07-20 发布日期:2020-11-06
  • 通讯作者: 肖剑荣,教授。
  • 作者简介:韦贤露(1997-),男,广西壮族自治区宜州县人,本科。
  • 基金资助:
    * 广西自然科学基金资助,项目号:(2017GXNSFAA198121)

Structure and Optical Properties of MoS2 Thin Films Prepared by RF Reactive Magnetron Sputtering

WEI Xian-lu, GONG Chen-yang, XIAO Jian-rong   

  1. College of Science, Guilin University of Technology, Guilin 541004, China
  • Received:2019-07-20 Published:2020-11-06

摘要: 采用射频反应磁控溅射技术,在不同气压下制备了二硫化钼薄膜。利用扫描电子显微镜、X射线衍射仪、紫外可见光光谱仪等对薄膜的表面形貌、结构和光学性能进行了表征、分析。结果表明:利用射频反应磁控溅射制备的MoS2薄膜,表面平整、颗粒均匀、致密,缺陷少;沉积气压1.2Pa条件下制备的薄膜结晶度最好;薄膜的光学带隙随沉积气压先增大后减小,1.2Pa时光学带隙最大,为1.69eV。薄膜光学带隙的变化是由沉积气压引起薄膜结晶度变化和形成缺陷不同所致。

关键词: 二硫化钼薄膜, 射频反应磁控溅射, 沉积气压, 晶体结构, 光学带隙

Abstract: Molybdenum disulfide films were prepared under different pressures by RF reactive magnetron sputtering. The surface morphology, structure and optical properties of the films were characterized by scanning electron microscopy, X-ray diffractometry and UV-Vis spectrometer. The results show that the surface of MoS2 films prepared by RF reactive magnetron sputtering is smooth, uniform and compact with few defects. The films prepared under the deposition pressure of 1.2Pa shows the best crystallinity. The optical band gap of the films increases first and then decreases with the increase of deposition pressure. The optical band gap is the largest at 1.2Pa, which is 1.69eV. The change in the optical band gap of the film is caused by the change in crystallinity of the films and the formation of defects due to the deposition gas pressure.

Key words: molybdenum disulfide films, RF reactive magnetron sputtering, deposition gas pressure, crystal structure, optical band gap

中图分类号: 

  • TB43
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