真空 ›› 2018, Vol. 55 ›› Issue (6): 19-23.doi: 10.13385/j.cnki.vacuum.2018.06.05
郭崇武，孙立臣，孙立志，齐飞飞，李文斌
GUO Chong-wu, SUN Li-chen, SUN Li-zhi, QI Fei-fei, LI Wen-bin
摘要： 某航天单 O 型圈密封结构单机产品真空检漏试验中，漏率曲线持续缓慢上涨并出现“尖角”现 象，类似典型双层弹性密封现象，此现象影响检漏结果的可靠性，因此弄清楚这一现象对后续的检漏试验 是非常必要的。本文建立了双密封结构泄漏过程的数学模型，从而在理论上解释了此类现象发生的原因， 并设计了实验工装，对实验结果进行了现象分析。这对后续的检漏试验具有一定的指导意义。
中图分类号:
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